Новый дизайн микроскопа сделал его внешний вид более представительным, надёжным и, вместе с этим, стильным. Подчёркнутая массивность основания, обеспечивает устойчивость прибора и защищённость от бытовых вибраций. Улучшены эргономические показатели, микроскоп стал удобнее в работе, обеспечивая минимальную утомляемость исследователя при длительной работе.
Этот микроскоп отличают функциональные преимущества перед металлографическими микроскопами, предлагаемыми сегодня на отечественном рынке. Главные преимущества – наличие специального прецизионного большого предметного стола, на котором могут располагаться весьма протяжённые объекты, такие, например, как фотошаблоны и другие специализированные изделия микроэлектроники. Особенности топологических структур изделий микроэлектроники обусловливают необходимость применения различных методов контрастирования. Классическими методами в металлографии являются т.н. упрощенная поляризация и тёмное поле. Дополнительными – интерференционный и фазовый контраст. До настоящего времени на отечественном рынке микроскопии весьма скудно представлены металлографические микроскопы, реализующие все перечисленные методы контрастирования. В этом смысле проект Labor-Microscopes® в числе лидеров рынка, предлагая, например, реализацию метода интерференционного контраста (ДИК) для всех объективов комплекта микроскопа (а не только малых и средних увеличений).
Реализация метода тёмного поля в прямых (не инвертированных) микроскопах, (тем более для объективов «высокого» увеличения), до недавнего времени была представлена только в микроскопах «большой четвёрки» - Zeiss, Olympus, Leica, Nikon. Об отечественных разработках этого метода для прямых металлографических микроскопов мы докладывали (см. Новости ЛабоМет-1 вариант2).
Анонсируемый сегодня инспекционный прямой микроскоп ЛабоМет-Инспект вариант 4 относится к классу исследовательских микроскопов. Его отличает ряд конструктивных особенностей. Специальный большой прецизионный предметный стол обеспечивает возможность перемещений объектов в горизонтальной плоскости в широких пределах. При этом обеспечивается минимальная дефокусировка на объект в пределах величины глубины резкости используемого объектива (даже с объективами максимальных увеличений) на всёх диапазонах перемещения стола.
Управление перемещением стола по горизонту осуществляется с помощью высокоточного коаксиального механизма. Имеется также возможность механического отключения коаксиального механизма и перемещения стола методом свободного скольжения по направляющим – что очень удобно в работе. Ручки фокусировочного механизма выведены максимально к наблюдателю, что не только предоставляет максимальный комфорт для исследователя, но и обеспечивает высокую жёсткость крепления и точность перемещения большого и тяжёлого предметного стола. К слову, такое конструктивное решение фокусировочного механизма было реализовано 20 лет назад в опытных образцах одного из отечественных микроскопов ЛОМО, в создании, которого принимали участие специалисты нашего проекта. Можно сказать, что использование этого технического решения – «позабытое старое на новом уровне».
Осветительная система реализована по классическому принципу «Кёлера», использовано техническое решение на основе изобретения, авторами которого также являются специалисты нашего проекта – с телецентрическим ходом осветительных пучков лучей. Сейчас разрабатывается модификация фонаря, использующего в качестве источника света новый сверх яркий светодиод мощностью 10Вт. Также в проектировании – осветительная система для реализации исследований методом люминесценции – также с применением LED технологий.
Базовый вариант микроскопа выполнен для работы в светлом поле, и поляризованный свет представлен в качестве метода контрастирования. Составная конструкция микроскопа позволяет оснащать его различными модулями и оптико-механическими узлами, получать микроскоп для работы в тёмном поле, методами интерференционного контраста (ДИК), фазового контраста (ФК) – для всех объективов комплекта. Использование тринокулярной насадки позволяет применять на микроскопе различные системы визуализации (например, на основе цифровой камеры или цифрового зеркального ф/а), получать конструктивные решения цифрового микроскопа или микроскопного комплекса. Наши специалисты в проекте Labor-Microscopes® стремятся к тому, чтобы наша продукция соответствовала лучшим образцам оптической техники, а иногда, и превосходила их. Разработка новой модификации исследовательского инспекционного микроскопа отражённого света ЛабоМет-Инспект вариант 4 это ещё один шаг на пути реализации этих устремлений.
2005 - 2023. Все права защищены. При копировании материалов активная ссылка на сайт обязательна!
