При работе с металлическими образцами, керамикой и другими техническими пробами используют микроскопы отраженного света, т.к. эти пробы непрозрачны в видимой области спектра. Как правило, может проводиться лишь поверхностный анализ.
В микроскопе отраженного света объектив вместе с неподвижно встроенной в штатив линзой работает аналогично конденсору. Полевая диафрагма устанавливается только один раз для одного объектива и подходит для всех других объективов.
Ход лучей в отраженном свете показывает, что свет от осветителя 1 (см. рис.) через апертурную диафрагму 2 и полевую диафрагму А попадает на светоделительную пластину. Там примерно половина всего света отражается в направлении зрачка объектива 3 и собирается объективом на поверхности пробы В. Поверхность отражает или рассеивает свет обратно в объектив. В обратном ходе лучей светоделительная пластина опять пропускает лишь половину света к тубусной линзе, формирующей промежуточное изображение С. Это промежуточное изображение увеличивается и наблюдается посредством окуляра.