Концепт инспекционного микроскопа для контроля изделий микроэлектроники

Представляем «Концепт» новой модели инспекционного микроскопа для контроля изделий микроэлектроники. Условное название «ЛабоМет-Инспект вариант 5 Концепт». Разработка и продажа таких микроскопов – приоритетное направление деятельности нашего проекта, поскольку здесь сконцентрированы все возможные методики всех остальных классов микроскопов. Например, металлография, поляризация, методы контрастирования и другие. Отдельно об объективах, именно оптика для целей контроля в микроэлектронике, самая сложная и интересная. Опыт поставки таких приборов подсказал одно важное требование к конструкции, которое и реализовано в этой модели. Этот инспекционный микроскоп отличается от других, выпускаемых в нашем проекте, конструктивным исполнением фокусировочных механизмов, обеспечивая возможность исследования образцов на «толстых» подложках. Или можно применять объективы с парфокальной высотой 95мм, использовать микроманипуляторы и другое.